導(dǎo)電性原子力顯微鏡(C-AFM) - 分析行業(yè)新聞

作者：微儀顯微鏡
發(fā)布時(shí)間：2023-02-20
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導(dǎo)電性原子力顯微鏡(C-AFM)

導(dǎo)電式原子力顯微鏡是外加一組電流放大器于顯微鏡,然后利用導(dǎo)電探針接觸模式掃描樣品,在取得高度訊號(hào)的同時(shí),若是樣品表面有電流產(chǎn)生,探針也會(huì)取得此電流訊號(hào),因此我們可以利用Conductive AFM的掃描,同時(shí)得到掃描區(qū)域得高度形貌圖及電流分布圖像, 更可進(jìn)一步的于特定的點(diǎn)上取得IV 曲線。

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