科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計理念,帶有偏光裝置、微分干涉裝置,可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計,使操作很方便舒適,空間很廣闊。適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器。總放大倍數(shù):50-800X
◆產(chǎn)品特點(diǎn):
1、采用了先進(jìn)的無限遠(yuǎn)光路設(shè)計,提供了出色的光學(xué)系統(tǒng)。
2、采用大視野目鏡和無限遠(yuǎn)長距平場物鏡,視場平坦,成像清晰。
3、整機(jī)采用了防霉處理,保護(hù)了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。
4、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用:
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗(yàn),
2、TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子,
3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。